Tout contrôler, tout mesurer : de nouvelles opport
Tout contrôler, tout mesurer : de nouvelles opportunités pour les capteurs !!!
La MEITO et CAP'TRONIC vous invitent à découvrir le formidable potentiel que représente le développement des "capteurs" au travers des nombreuses applications et attentes présentées par les différentes filières professionnelles de l'Ouest (Mer, Automobile, Santé, Agroalimentaire, ...)
Cette manifestation aura lieu le jeudi 3 avril 2008 à l'ENS Cachan à Bruz (35)
Cette journée s'adresse bien évidemment aux acteurs des "TIC" mais aussi aux filières utilisatrices de tous ces systèmes permettant de tout contrôler et de tout mesurer ....Conférences, exposition et échanges sont au programme. Vous pouvez également télécharger le programme au format PDF et vous inscrire en ligne
14/03/2008.
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Séminaire du Pôle Images & Réseaux à Vannes les 20 et 21 mars 2008
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Salon Mobil World Congress à Barcelone du 11 au 14 Février 2008
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Inauguration des locaux du Pôle Images et Réseaux
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